filmetrics - filmetrics台灣 - Filmetrics F30
TWD 143.80
數量:
Filmetrics 膜厚量測儀
Filmetrics成立於1995年，其使命是讓薄膜測量變得簡單且價格合理。Filmetrics整合了優異的軟硬體可以在不到一秒的時間內完成薄膜厚度測量，使得操作員可以在幾分鐘內完成
Filmetrics
材料與膜層表面特性-膜層厚度與折射率量測系統Thin Film Thickness Measurement:美國Filmetrics公司創建於1995年，並為全世界著名的薄膜量測製造商，其薄膜量測系統被全世界
Filmetrics的薄膜厚度测量系统
只要单击滑鼠，我们就可以通过分析薄膜的反射光谱来测量薄膜的厚度，通过非可见光的测量，我们可以测量薄至1纳米或厚至3毫米的薄膜。由于没有任何的可移动的零件，测量结果可在
Thin-Film Thickness Measurement Systems
The Filmetrics® range of affordable thin-film reflectometers deliver high precision thin-film thickness measurements in seconds.